《电工技术》2006年第10期摘录:中低压电器选型推荐表2温升型式
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正文摘录:
中低压电器选型推荐表2温升型式试验(DK5—3200)2开断摸底试验开断试验是衡量开关的又一重要指标。在框1的基础上对框2接触系统进行了重新设计,预计指标为2500A,,。。=,。。=65kA,,。。=40kA;3200A,,…=,,。=80kA,,....=50kA。摸底试验中2500A的指标顺利通过。通过试验现象和试验结果的分析,3200A指标的实现应该没有问题。我们还对灭弧室触头进行了解剖分析,触头表面烧损并不严重,接触电阻增加不多。但接下来的3200A指标试验并不顺利,以下是DK5—3200前2次摸底试验的失败数据。从表3、表4的情况来看,问题都出在CO上,而0的试验现象也不是很理想,从C0的波形图来分析,在电流第1次过零时,开关有分的趋势即而重燃,这说明机构输出没有问题,磁通变换器的动作也说明智能控制器采样与判断是正确的,关键还是在接触系统上面找原因。分析两次摸底试验,主要问题是触头熔焊。多数是一相熔焊,试后分析试品触头,发现有熔焊痕迹,说明触头的抗熔焊性较差或触头材料的抗熔焊性不够理想.也可能是触头在电流产生的电动力作用下发生跳动,即超程不够。推测表4中c0的失败可能是在0时,c相已有熔焊趋势,因为c相在开断后明显发热,根据经验正常的试品灭弧室表面温度应没有变化。针对上次摸底试验的现象和分析,我们对开关的接触系统进行分析,对于灭弧室结构,在DK5开表3开断摸底试验试验项目给曩暑流开絮詈间蜂景:流试验现象搿未故曩导流冀釜霖2000021ms有分动作,开关燃烧88圜勰2006年10期发初期,联合设计组曾为真空灭弧室的开发选型做了一系列的摸底试验,为了选择更为合理的结构方案,对纵磁、横磁和复合磁场等不同的磁控触头结构和不同的触头材料组合进行了一系列的试验,最后选出现在的触头方案和材料组合,而且所选用的触头材料无论在性能上还是在工艺上在国内都是最好的。所以主要对触头压力和超程进行验证和改进,接触系统结构如图2。图2接触系统结构图触头的压力来自两部分:一部分是由触头弹簧提供的,它基本上是个定值;另一部分是由断路器上的电动力补偿结构所提供的,这部分的力是个变值,它与一次回路的电流的平方成正比,影响这个变值的主要因素就是软连接。我们从提供触头压力的这两个方面进行优化。一是优化零件3(不锈钢支架)的转动行程来增加超程(计算过程略);二是对零件2软连接在电气结构上进行优化。经过细致的理论分析并根据以往的经验我们对接触系统及机构与接触系统的传动部分进行改进,又做了一次摸底试验,见表5及图2~图4。表5开断摸底试验试验波形图如图3~图5:图3单分;图4、图5合分。这次试验第二个CO,虽然没有成功,但足以说明我们的改进和优化起了作用。这次的试验还是存在比较严重的问题,试品已息弧,但通断时间较长中国电工网WWW.ch]naetnet升%两”他船酡t¨粕一∞∞∞鲫鲫舳M∞代一时击击0—3649裁豢鬻意代一时击j4洁4,。5度一∞盯∞∞∞”妞孔钾龋一…mⅢmm…触mn钾一卜旧代一时036073553黼一酬mⅢ蚯Ⅲ蛆眠拽n拽点度度度惺0204,6泪m温}!皿测柄境壳手环外
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