0	基于SOC单片机C8051F206漏磁检测系统的研究 所投刊社及刊社评论 | 作者个人资料
	投票	0条评论 收藏  推荐本文 博客引用 作者:陈金忠    所属分类: 仪器/仪表

摘要 文章结合漏磁检测的基本原理介绍了基于高速SOC 单片机C8051F206漏磁检测系统。该系统可以对铁磁性材料的裂纹、腐蚀等缺陷进行检测，首先系统利用磁敏元件拾取漏磁信号，然后漏磁信号预处理并经过AD转换后将检测结果通过串口通讯实时发送到上位机。 正文 字体大小：大 中 小

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备注: 作者简介：陈金忠（1981），男，研究生。主要从事：计算机辅助工程与仿真. 电话：13811657750 EMAIL：chenbeiter@yahoo.com.cn

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